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PIEZOSYSTEM XY軸位移臺 測量實驗室及產(chǎn)品簡介： PIEZOCONCEPT LF2.100 µm 位移臺（又稱 PIEZOCONCEPT LF2.100）是一種高精度的位移控制設(shè)備，通常用于實驗室、科研和工業(yè)自動化等領(lǐng)域，

SONASCREEN 2 攝像機聲學(xué)測量設(shè)備及產(chǎn)品簡介： SONAPHONE 數(shù)字超聲波測試設(shè)備，頻率范圍 150 Hz - 128 kHz，5 英寸 TFT 顯示屏，帶多點觸控控制器。

Janitza 通用測量設(shè)備 變壓器及產(chǎn)品簡介： Janitza UMG 103-CBM 是一種通用測量設(shè)備，用于低壓配電系統(tǒng)中的頂帽導(dǎo)軌安裝，用于測量和檢查配電系統(tǒng)中的電氣參數(shù)。它測量高達(dá) 40 次諧波的諧波。

Janitza 三相電表互感器測量及產(chǎn)品簡介： Janitza 單相電表和三相電表均可直接測量。三相儀表也可以通過電流互感器測量更大的電流范圍。

Janitza 數(shù)據(jù)采集功率分析儀器及產(chǎn)品簡介： Janitza 模塊化可擴展功率分析儀 UMG 96 PQ-L，通過插入式擴展模塊，該器件可以通過以太網(wǎng)接口、2 個差分電流輸入、一個溫度輸入和第 4 個電流輸入快速輕松地進行擴展。

POLOS 系列 光譜測量儀及產(chǎn)品簡介： FR-pRo 是一個模塊化和可擴展的平臺，用于表征 1 nm - 1 mm 厚度范圍內(nèi)的涂層。FR-pRo 工具根據(jù)客戶需求量身定制，用于各種不同的應(yīng)用，例如：吸光度/透射率/反射率測量、溫度和環(huán)境受控環(huán)境甚至液體環(huán)境中的薄膜表征等等。

POLOS 實時光譜測量裝置用于研究所及產(chǎn)品簡介： polos 單點測量裝置微型化解決方案，用于對透明和半透明的單層薄膜或薄膜堆疊進行精確和精確的非破壞性層厚測量。保證高度準(zhǔn)確和可重復(fù)的測量。

POLOS 用于半導(dǎo)體上的單點測量裝置及產(chǎn)品簡介： polos 單點測量裝置微型化解決方案，用于對透明和半透明的單層薄膜或薄膜堆疊進行精確和精確的非破壞性層厚測量。保證高度準(zhǔn)確和可重復(fù)的測量。